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光學測試系統
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QE-2000熒光量子效率測試系統瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體(膜)、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器,大大減少了紫外區域 的雜散光。
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