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OPTM 系列顯微分光膜厚儀$n 測量項目:$n$n? 絕.對反射率測量$n$n? 多層膜解析$n$n? 光學常數分析(n:折射率,k:消光系數)
半導體晶圓缺陷檢測儀利用亮場和暗場顯微成像技術,通過自動化的圖像捕捉以及人工智能分析工具,為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案。
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統可測量濃度低的溶液~濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。
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